超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試

簡要描述：

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。

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更新日期：2024-09-04

價(jià)格：

詳細(xì)介紹

品牌	廣電計(jì)量	加工定制	是
服務(wù)區(qū)域	全國	服務(wù)周期	常規(guī)3-5天
服務(wù)類型	元器件篩選及失效分析	服務(wù)資質(zhì)	CMA/CNAS認(rèn)可
證書報(bào)告	中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告	增值服務(wù)	可加急檢測
是否可定制	是	是否有發(fā)票	是

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試服務(wù)范圍

處理器、存儲器、AD/DA、接?芯片等?規(guī)模集成電路、適用于各種封裝（DIP、SOP、BGA、PGA、QFP、PLCC、LCC等）。

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試檢測標(biāo)準(zhǔn)

l GJB597A-1996半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范

l GJB2438A-2002混合集成電路通?規(guī)范

l GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)?法和程序

l GJB7243-2011電子元器件篩選技術(shù)要求

l AEC-Q100 STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS

l MIT-STD-883E TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS

l JESD22-A108-A Temperature, Bias, and Operating Life

檢測項(xiàng)目

試驗(yàn)設(shè)備	設(shè)備能?
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉	系統(tǒng)分區(qū)：16 區(qū)； I/O通道數(shù)：128 路；信號頻率：100MHz；向量編程深度：32M；試驗(yàn)溫度：-10℃?+125℃(±2℃)。
超大規(guī)模集成電路測試	能進(jìn)?動態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；能進(jìn)?常溫測試、低溫測試、?溫測試，溫度范圍：-55℃?+150℃ (±2℃)；I/O通道數(shù)：512路；信號頻率：≥200MHz；可升級；向量編程深度：64M。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

在半導(dǎo)體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，行業(yè)引入了?量新材料、新?藝和新的器件結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致集成電路更高的缺陷密度，動態(tài)老煉與測試是保證及提高其可靠性和質(zhì)量?致性的關(guān)鍵?法。

我們的優(yōu)勢

l 通過對大規(guī)模集成電路施加特定測試向量（有效測試向量），激勵(lì)內(nèi)在缺陷和錯(cuò)誤形成響應(yīng)，并通過電應(yīng)力和熱應(yīng)力的加速，在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試?段予以剔除，以達(dá)到提高?規(guī)模集成電路使?可靠性的?的。

l 超?規(guī)模集成電路測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。特別在集成電路?產(chǎn)后期和使?前期不良率驗(yàn)證過程中，采?適當(dāng)?shù)臏y試向量和全?動化的測試設(shè)備，可全?快速地識別不良產(chǎn)品，提?產(chǎn)品的交付可靠性。